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Plastische Deformation von GaAs bei verschiedenen Temperaturen
Projektbearbeiter:
V. V. Mikhnovich
Finanzierung:
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) ;
Gegenstand des Projektes ist der Vergleich der Verformungsmechanismen bei Temperaturen nahe des Schmelzpunktes mit einer Raumtemperaturdeformation, wo das Material eigentlich spröde ist. Der unterschiedlichen Prozesse des Versetzungsgleitens sollten verschiedene Generationsmechanismen von intrischen Punktdefekten zur Folge haben, die spektroskopische erfasst werden sollen.

Schlagworte

Defekt, Deformation, Elektronenmikroskopie, Halbleiter, Spektroskopie, Versetzungen
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